Фексальды қорытпаФольга / жолақ катушкалары 0,05 мм металлға арналған ішкі субстраттар үшін қалыңдығы

Жоғары алюминий мөлшері, жоғары хром құрамымен үйлеседі, бұл масштабтау температурасын 1425 с-қа дейін (2600F) дейін арттыруға әкеледі; Тақырыптың жылу кедергісі астында, оларФексальды қорытпаS қолданылған FE және NI негізгі қорытпаларымен салыстырылады. Осы кестеден көруге боладыФексальды қорытпаS қоршаған ортадағы басқа қорытпалармен салыстырғанда жоғары қасиеттерге ие.

Айта кету керек, температуралық жағдай кезінде, ол Fecralloys қорытпалары ретінде белгілі AF қорытпасына қосу, қорғаныс оксидінің сақталуын жақсартады, оның құрамдас оксидінің сақталуын жақсартады, AF 1 сыныпқа қарағанда компоненттердің қызмет ету мерзімін жалғастырады.

Fe-Cr-Al сымдары, мысалы, yttrium және гермиконий сияқты реактивті элементтерден тұрады, мысалы, yttrium және цирконий, мысалы, YTTRIUIR және ZORCONIUM және балқыту, болат илеу, тазарту, сурет салу, жер бетін өңдеу, кедергіні бақылау сынағы және т.б.
Fe-CR-AL сымы жоғары жылдамдықты автоматты салқындату машинасы арқылы қалыптасқан, оның қуаты компьютермен басқарылады, олар компьютермен басқарылады, олар сым мен таспалық (жолақ) ретінде қол жетімді.

Ерекшеліктер мен артықшылықтар
1
2. Төмен температура коэффициенті
3. Ни-базалық супер-қорытпалардан гөрі термиялық кеңейту коэффициенті.
4. Жоғары электрлік кедергісі
5. Жоғары температурада жақсы коррозияға төзімділік, әсіресе сульфидтер бар атмосфера астында
6. Жоғары беткі жүктеме
7. Сыпайым төзімді
8. Төменгі шикізат бағасы, төмендетілген, төмендетілген және арзан бағаны никромдық сыммен салыстырғанда арзанырақ.
9. 800-1300ºС жоғары тотығу кедергісі
10. Ұзақ қызмет ету мерзімі

Коммерциялық тотығуға байланысты метастинді алюминий фазаларын қалыптастыруФексальды қорытпаӘр түрлі температура мен уақыт кезеңдерінде сымдар (қалыңдығы 0,5 мм) тексерілді. Үлгілер термогравметриялық анализатор (TGA) көмегімен ауада эфирде изотермиялық тұрғыдан өтті. Тотталған үлгілердің морфологиясы Энергетикалық дисперсиялық рентгендік (EDX) анализаторының көмегімен электронды сканерлеуші ​​электронды микроскопты (ESEM) және рентгені пайдаланылды. Рентгендік дифракцияның техникасы (XRD) оксидтің өсу кезеңін сипаттау үшін қолданылды. Барлық зерттеулерде гамма-гамма гамманы өсіруге болатындығын көрсеттіФексальды қорытпаСымдар беттері 800 ° C-тан асқан кезде бірнеше сағаттан асқан кезде.